技术指标：

测试频率：50 Hz～13 MHz

测试温度：-100℃～+400℃

直流偏压：±40 V

被测介质：块体

同时可测试样品数：6个

可测参数：

||Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q、等

购置时间：

2011年

放置地点：

清华大学逸夫技术科学楼2209室

联系电话：

62773309