技术指标：

测试频率：3μHz～3 GHz

测试温度：-160℃～+400℃

直流偏压：±2000 V

被测介质：块体、膜、液体、粉末等

可测参数：

|Z|、θz、|Y|、θY、R、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、Rp、Rs、D、Q、TSDC等

购置时间：

2012年

放置地点：

清华大学逸夫技术科学楼2209室

联系电话：

62773309