聚焦离子束系统(FIB)

仪器位置:清华大学逸夫技术科学楼B113室

管理人员:孙老师

联系方式:010-62772554

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仪器位置 清华大学逸夫技术科学楼B113室 管理人员 孙老师
联系方式 010-62772554 立即预约 https://yqgx.tsinghua.edu.cn/search/searchAction.do?ms=queryEquList&keyword=21018741
型号

德国卡尔蔡司,Crossbeam 340

技术指标

分辨率:1.0nm & 15kv;1.9nm & 1kv (SEM)

加速电压:0.02kv - 30kv (SEM)

电子束流:5pA-20nA

分辨率:3nm & 30kv (FIB)

离子束流:1pA-100nA

探测器:二次电子探测器

主要功能

截面分析、微纳加工、透射样品制备、三维重构。

购置时间

2018年

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